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簡要描述:熒光光譜測金儀EDX6000D概述:無損貴金屬檢測和Karat ID。XRF是一種廣泛使用、經(jīng)過驗證和接受的化學分析方法,用于測定貴金屬的純度和細度。 XRF分析是一種多元素測試替代方法,它比火焰分析和化學測試更快、更便宜。 XRF可對您的銀、鉑和PGM金屬和雜質(zhì)進行現(xiàn)場分析,使其成為增強客戶信心和確保經(jīng)銷商可靠性的簡便方法。
產(chǎn)品分類
詳細介紹
品牌 | 英飛思 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
---|---|---|---|
能量分辨率 | 165eV | 分析含量范圍 | 2ppm-99.999% |
元素分析范圍 | Ti-U | 價格區(qū)間 | 面議 |
儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應用領域 | 綜合 |
熒光光譜測金儀EDX6000D特點和優(yōu)勢:
全新設計的X射線直射樣品角度,避免樣品形狀對戒指或項鏈等彎曲樣品的最終結果的影響。
圖1-1 EDX-6000X射線角度圖1-2正常X射線角度。
>ESI EDX-6000設計緊湊,占用空間極小。
>用于分析的小點準直器;能夠在0.5mm、1mm和3mm直徑的光斑之間自動切換。使其更容易并適用于不同的應用程序。
>一個易于使用的分析儀,只需按一下按鈕即可提供克拉和成分分析結果。
>快速輕松地創(chuàng)建結果證書。
>ESI EDX-6000可以聯(lián)網(wǎng),以便在生成測試結果時輕松訪問它們。
>分析儀是一個安全可靠的封閉光束系統(tǒng),需要最少的培訓。
>一鍵式操作提供最友好的客戶體驗。
使用ESI EDX-6000 XRF分析儀:
>快速準確地為現(xiàn)金換金件定價
>識別和表征各種合金,包括銀、鉑等
>鑒定樣品中的有毒元素
>管理精煉和熔化操作的質(zhì)量控制
>涂層厚度測量的更多選項
典型應用:
• 金克拉鑒定
• 涂層厚度測量
• 有害金屬檢驗:Cd、Pb、Ir、Ru
• 電鍍液分析
熒光光譜測金儀ESI EDX-6000 XRF規(guī)格:
緊湊型專業(yè)貴金屬檢測解決方案
ESI EDX-6000提供了兩全其美的優(yōu)勢。一款適合消費者陳列室環(huán)境的漂亮分析儀,它也可以聯(lián)網(wǎng)以實現(xiàn)高生產(chǎn)力的 QA/QC 工作。 ESI EDX-6000可以輕松運輸?shù)叫枰獪y試的任何位置。
集成攝像頭指示樣品分析點
安全的閉束XRF系統(tǒng)
50WX射線管,1000µA 電流(最大值),加上優(yōu)化的光束設置以進行準確分析
優(yōu)化校準的一鍵式操作軟件,包括FP和EC方法
EDX-6000具有無標準的基本參數(shù)和經(jīng)驗系數(shù)校準,可針對不同的貴重合金(金、銀、鉑、鈀)進行自動調(diào)整。定制的結果和報告證書,包括分析結果、測試樣品的圖像、公司徽標等,可以通過可選的PC軟件單擊按鈕生成。
ESI EDX-6000 6000測試性能
ESI EDX-6000 認證金合金標準中金的準確度
ESI EDX-6000 在認證金合金標準中的Pt精度
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