EDX-8000 XRF Spectrometer能量色散X熒光光譜儀

RoHS環(huán)保指令檢測儀

Simply the Best

主要應用于

>RoHS 2.0 / WEEE

>無鹵檢測

>玩具EN71及消費品的有害物質檢測（Pb、Cd、Hg、Cr 、Br、Cl、As、Sb、Se、Ba等）

>94/62/EC包裝指令

RoHS指令專用檢測光譜儀EDX-8000

>背景

有害物質限用指令（英語：Restriction of Hazardous Substances Directive 2002/95/EC，縮寫RoHS），是2006年7月1日施行的關于所有在歐盟市場上出售的電子電氣設備必須禁止"鉛、汞、鎘、六價鉻、PBB（多溴聯(lián)苯）、PBDE（多溴聯(lián)苯醚）"這6種物質的指令

EDX8000是專門針對ROHS/無鹵檢測、EN71等環(huán)保指令設計的一款光譜儀

EDX8000是一款快速，準確且經濟高效的XRF熒光光譜分析儀，已用于分析各種金屬塑料及電子材料中的鉛（Pb），鎘（Cd），砷（As），汞（Hg），鉻（Cr）和其他有毒有害元素。它提供的元素檢測下限（通常2ppm）wan全滿足RoHS法規(guī)對于材料中元素限制的含量標準。EDX8000適用范圍廣泛，可應用于金屬/塑料/土壤/玩具/電子電器/汽車等多種行業(yè)檢測。也可檢測粉狀、板狀、線狀等各種規(guī)則與不規(guī)則樣品；可在倉庫，裝配線，辦公室等各種工業(yè)生產或商業(yè)環(huán)境下使用，而且不需要配備專門的實驗室；EDX8000適用于企業(yè)內部質量控制，質量檢測，進出口和海關查驗等領域，可以對各類進出口玩具，珠寶，服裝，電子產品和其他消費品進行快速，準確，無損的RoHS符合性篩選

產品特點

>無損檢測，快速分析，結果可靠

操作簡單明了。將測試樣品直接放在儀器分析測試窗口上，或者將其放置在廠家提供的專用樣品杯中（如果很?。?/span>，通過內置高清攝像頭調整樣品測量位置后，關閉樣品腔上蓋。操作員按“開始"，一鍵測試即可在三分鐘內獲取測量結果。內置的高清攝像頭還可以使樣品的圖像和測試結果以報告格式直接存儲或發(fā)送到打印機打印。 

>我們的優(yōu)勢

 1-一鍵式自動測試，使用更簡單，更方便，即使非技術人員也能快速上手

 2-采用美國AmpTek最新型Si-pin/SDD探測器，電致冷技術，體積小、數據分析準確且維護成本低。

 3-采用自主研發(fā)的探測器信號增強處理系統(tǒng)，提高信噪比，達到實驗室級別zui低1ppm檢出限。

圖1-1

（圖1-1展示了塑料中98ppm和808ppm溴元素Br的光譜對比圖。紅色為808ppmBr,藍色為98ppm溴。光譜圖是XRF光譜儀可以迅速測試的數據分析基礎）

 4-八種光路準直系統(tǒng)，根據不同樣品大小自動切換。最小0.2mm準直器可以用于樣品微點測試，檢測光斑更小，射線能量更集中。內置高清CCD攝像頭，能清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

 5-采用7位濾光片自動切換系統(tǒng)，不同濾光片可有效提高不同基體中元素的檢測下限

 6-多重防輻射泄露設計，輻射防護級別屬于同類產品zui高級

 7-*一體化散熱設計，使整機散熱性能得到極大提高，提高核心部件使用壽命

 8-du有的機芯溫控技術，保證X射線源的安全可靠運行，降低使用成本

 9-可定制化報告，可以自由設定元素檢測限，軟件自動標示超標元素（Fail/Pass）

 10-多重儀器硬件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程實時監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

 11-優(yōu)化了Cl，Cr等元素的檢測，大大提高了低含量Cl和Cr元素的測試靈敏度和穩(wěn)定性，為用戶的無鹵分析提供了更精準的檢測方法

 12-可拓展應用：鍍層厚度分析，八大重金屬分析，合金成分分析

>可定制的測試報告

EDX8000的PC報告軟件可自定義并可立即生成報告，包括分析結果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像?？勺匪莸奈臋n使EDX8000成為RoHS符合性測試的理想工具。

RoHS 符合性測試專家EDX8000

>儀器參數

>標準配置

從國際認可的第三方認證實驗室的RoHS檢測流程可以發(fā)現(xiàn)，EDXRF被用作RoHS快速掃描篩選工具，用于對未知樣品的RoHS符合性分析。EDX8000結合了監(jiān)管機構推薦的XRF技術和多種增值功能，為RoHS檢測提供了理想的工具。同時EDX8000可無縫集成各類樣品信息，圖像和分析結果，從而節(jié)省了運營成本和時間。

全新升級版

EDX-8000B SDD XRF Spectrometer

EDX-8000B SDD能量色散X熒光光譜儀

RoHS環(huán)保指令檢測專家

為了滿足客戶日益更為嚴苛的測試需求，特別是對微量痕量元素測試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標準，英飛思ESI全新開發(fā)了升級版EDX8000B---RoHS符合性XRF檢測光譜儀。相較于基礎版本的Si-pin硅針檢測器，EDX8000B裝備了zuigao端的SDD硅漂移檢測器。更高的樣品X光能量數據通量，更好的光譜分辨率，使得檢測性能提高了2-3倍。

EDX8000B的優(yōu)勢：

•更快---由于單位時間內可以獲得更高樣品信號通量，使得測量時間大幅減少。100秒即可達到普通版本儀器200秒的測量效果

•更準---du特的多道分析器DPP可實現(xiàn)超過100,000 cps的線性計數速率而同時保證zuiyou的光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV（普通Si-pin探測器為160eV），以更好地分離不同元素的光譜。同時，強大的基于Windows的FP（基本參數算法）軟件降低了基體元素間吸收增強效應，并同時考慮到不同基體對光譜強度變化的干擾，把測試準確度提高到了新的水平

•更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測器(普通Si-pin檢測器6mm²),該款檢測器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測器的光譜強度（計數率CPS），從而得到更好的測試穩(wěn)定性和長期重復性。與傳統(tǒng)的Sipin版本臺式儀器相比，EDX8000B光譜儀可以全功率運行，因此實現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測試表現(xiàn)

典型測試性能對比（EDX8000對比EDX8000B）

>>圖3-1，3-2可以清晰的看到，同樣測試條件下，8000B獲得了更好的Pb鉛測試光譜（圖中綠色部分為Pb元素光譜線，右圖Pb峰形更高，信噪比更好，分辨率更優(yōu)，最終表現(xiàn)為更優(yōu)異的測試結果）

如何選擇（EDX8000或者EDX8000B）

如果您對測試速度有更高的要求，

如果您對微量元素（小于100ppm）的測試靈敏度和穩(wěn)定性有更高要求，

EDX8000B無疑都是zuijia選擇。

如果您主要關注性價比，EDX8000仍然是非常正確的選擇。

及時而專業(yè)的售后服務  

>對客戶方操作人員進行技術培訓

>現(xiàn)場安裝、調試、驗收服務

>產品*維修

>免費提供軟件升級

>提供zuigao效的技術服務，在接到用戶故障信息后，8小時內響應，如有需要，48小時內工程師上門維修和排除故障