XRF熒光光譜真空臺(tái)式型合金測(cè)試光譜儀在合金檢測(cè)的應(yīng)用

更新時(shí)間：2022-11-04 點(diǎn)擊次數(shù)：1057

XRF熒光光譜合金分析儀EDX9000A真空臺(tái)式型合金測(cè)試光譜儀

元素分析的準(zhǔn)確性往往非常重要——尤其是在評(píng)估合金成分及牌號(hào)時(shí)。對(duì)其他應(yīng)用來(lái)說(shuō)，速度甚至更加重要：高樣品處理量的檢測(cè)中心要求快速且準(zhǔn)確的分析。此外，所有用戶(hù)都希望分析儀堅(jiān)固、方便和容易操作，配備實(shí)用軟件，結(jié)果可輕松傳送到實(shí)驗(yàn)室網(wǎng)絡(luò)。在處理合金成分時(shí)，用戶(hù)當(dāng)然也很贊賞非破壞性取樣。

多年來(lái)，英飛思ESI在合金分析領(lǐng)域中均提供超可靠的XRF合金分析儀性能。它是很多分析實(shí)驗(yàn)室的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)?，F(xiàn)在的新一代EDX9000A合金分析儀析儀靈敏度比上一代產(chǎn)品增加了兩倍，精確度接近實(shí)驗(yàn)室化學(xué)方法，同時(shí)速度和易用性遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)后者。它已為合金分析儀應(yīng)用而全面優(yōu)化。

真空型EDX9000A合金分析光譜儀集成ED-XRF探測(cè)器技術(shù)的新發(fā)展，使用高計(jì)數(shù)率和高分辨率SDD探測(cè)器。這些智能的創(chuàng)新使其成為合金成分測(cè)試領(lǐng)域現(xiàn)有*中級(jí)實(shí)驗(yàn)室XRF臺(tái)式分析儀之一。因此客戶(hù)可以選擇顯著提高精度，即使對(duì)少量或痕量元素含量也如此；或者顯著加快測(cè)試速度，以滿(mǎn)足大量樣品處理量的需求。

同時(shí)，EDX9000A合金分析儀強(qiáng)的基本參數(shù)FP和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法EC的很好結(jié)合不僅可以分析高純合金，也可以對(duì)基體復(fù)雜的多雜質(zhì)樣品進(jìn)行定性定量分析。FP參數(shù)算法的應(yīng)用，也使得儀器對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴(lài)度大大降低。

>一鍵初始化儀器，基體自動(dòng)匹配

>自動(dòng)定性，半定量和定量分析，不同樣品測(cè)試譜圖可實(shí)時(shí)對(duì)比

>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強(qiáng)效應(yīng)影響

>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測(cè)精度

>可實(shí)時(shí)刷新測(cè)量結(jié)果

>簡(jiǎn)單的流程欄向?qū)Э蓭椭脩?hù)創(chuàng)建新的自定義標(biāo)定曲線(xiàn)

>可定制化測(cè)試報(bào)告，一鍵打印

合金元素檢測(cè)專(zhuān)家EDX9000A

>儀器參數(shù)

儀器外觀(guān)尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大樣品腔：460mm*310mm*95mm

半封閉樣品腔（抽真空時(shí)）：Φ150mm×高75mm

儀器重量: 45Kg

元素分析范圍：Na11-U92硫到鈾

可分析含量范圍：1ppm- 99.99%

探測(cè)器：AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測(cè)器

多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器

X光管：50W高功率鈹窗光管

高壓發(fā)生裝置：電壓最大輸出50kV，自帶電壓過(guò)載保護(hù)

電壓：220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度：-10 °C 到35 °C

儀器配置

>標(biāo)準(zhǔn)配置	>可選配置
純Ag初始化標(biāo)樣	交流凈化穩(wěn)壓電源
真空泵	合金標(biāo)樣
樣品杯
USB數(shù)據(jù)線(xiàn)
電源線(xiàn)
測(cè)試薄膜
儀器出廠(chǎng)和標(biāo)定報(bào)告
保修卡

功能強(qiáng)大而界面友好的測(cè)試軟件

界面清晰易用。一鍵測(cè)試，簡(jiǎn)單易用，無(wú)需手動(dòng)選擇工作曲線(xiàn)，軟件自動(dòng)匹配樣品基體，即使非專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員也能快速掌握儀器使用

基本參數(shù)FP和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法EC的結(jié)合不僅可以分析高純合金，也可以對(duì)基體復(fù)雜的多雜質(zhì)樣品進(jìn)行定性定量分析。FP參數(shù)算法的應(yīng)用，也使得儀器對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴(lài)度大大降低。