X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣,樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候,會放射出硫元素的特征 X 光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號,儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應(yīng)的測試強(qiáng)度。用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣品建立特征X射線強(qiáng)度與硫含量之間的關(guān)系,也就是標(biāo)定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標(biāo)定曲線后,再去測試未知樣品,便可快速分析石油及其他液體中的硫含量。