合金分析光譜儀的常見問題相應(yīng)解決方法分享
2025-01-17
合金分析光譜儀是一種基于光譜學(xué)原理的高科技檢測儀器，利用不同元素在受到激發(fā)后釋放出光譜的特性，通過測量和分析這些光譜的強度和波長，來確定合金材料中各種元素的種類和含量。它具有高精度、高速度、操作簡便等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于冶金、機械、石油化工等領(lǐng)域，能夠快速準(zhǔn)確地檢測出金屬材料的成分和...
-
什么是X熒光光譜石油快速硫分析測試儀？
什么是X熒光光譜石油測硫儀？X射線熒光硫分析儀是一種基于X射線熒光光譜分析的測試光譜儀。X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀）是一種快速、無損的材料測量方法。其原理是用X射線激發(fā)源照射待分析的油樣。樣品中硫元素的內(nèi)電子被敲除后，引起核外電子躍遷。當(dāng)被激發(fā)的電子回到基態(tài)時，硫元素就會被放出。特征X射線。探測器接收這些硫元素的特征X射線信號，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的測試強度。特征X射線強度與硫含量之間的關(guān)系是用標(biāo)準(zhǔn)物...
-
使用X射線能量色散熒光光譜儀的測試程序和步驟
使用X射線能量色散熒光光譜儀（XRFAnalyzer）的測試程序和步驟1光譜儀準(zhǔn)備a)按照儀器的工作說明書給儀器通電，加熱設(shè)備，按廠家說明書對儀器進行穩(wěn)定。b)確保測試穩(wěn)定，并按照制造商的說明使檢測器穩(wěn)定2校準(zhǔn)a)根據(jù)儀器用戶手冊的說明，按照第7節(jié)的說明選擇參考樣品作為校準(zhǔn)樣品。樣品中的元素濃度應(yīng)該不一樣。如果校準(zhǔn)覆蓋的元素多，濃度范圍大，則需要大量的校準(zhǔn)樣品。由于以下原因，校準(zhǔn)樣品的數(shù)量有所減少：—用基本參數(shù)法校準(zhǔn)（元素小于標(biāo)準(zhǔn)）—使用基本參數(shù)方法校準(zhǔn)（使用具有相似元素的標(biāo)...
-
在 XRF 熒光光譜儀中使用壓片法與直接測試粉末樣品相比有哪些優(yōu)勢？
在XRF熒光光譜儀中使用壓片法與直接測試粉末樣品相比有哪些優(yōu)勢？壓片制備步驟X射線熒光光譜(XRF)對樣品材料的制備高度敏感。壓縮的水泥樣品顯示出更高的信噪比，與松散的粉末形式相比，它可以檢測到最輕的元素。當(dāng)元素組成被量化時，在預(yù)期值和松散粉末樣品之間觀察到明顯的差異。當(dāng)使用同一批水泥制備壓縮顆粒時，這些差異將消失。XRF光譜分析信號由兩部分組成：特征波長處的X射線發(fā)射峰對應(yīng)于分析樣品原子中發(fā)生的電子躍遷由松散束縛的外部電子散射的X射線的連續(xù)背景，發(fā)射峰疊加在其上這些特征X射...
-
RoHS2.0 限制重金屬、鉛、鎘、汞和鉻的危害及其監(jiān)測方法
RoHS2.0限制重金屬、鉛、鎘、汞和鉻的危害及其監(jiān)測方法EDX-8000Brohs分析儀1.物質(zhì)的理化常數(shù)國標(biāo)號：CAS：7439-92-1中文名稱：鉛英文名稱：Lead;LeadFlake別名：無分子式：Pb分子量：207.2熔點：327℃密度：相對密度（水=1）11.34（蒸氣壓：970℃溶解性：不溶于水，溶于硝酸、熱濃硫酸、堿液，不溶于稀鹽酸穩(wěn)定性：穩(wěn)定外觀與性狀：灰白色軟粉末，切割面有光澤，延展性弱，延展性強危險標(biāo)志：用途：主要用于電纜、電池、鉛冶煉、廢銅冶煉、印刷...
-
X射線熒光光譜儀常見問題--EDXRF光譜儀系列
英飛思科學(xué)儀器X射線熒光光譜儀常見問題--EDXRF光譜儀系列問：RoHS限制的六種物質(zhì)是什么？答：六價鉻、鎘、鉛、汞、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。問：RoHS限制的六種物質(zhì)的含量限制是多少？答：六價鉻為1000PPM，鎘為100PPM，汞為1000PPM，鉛為1000PPM，多溴聯(lián)苯為1000PPM，多溴聯(lián)苯醚為1000PPM。問：EDX9000B的檢測范圍是多少？答：它可以檢測從鈉到鈾的各種元素。問：我們的設(shè)備可以做哪些測試？A：可做RoHS檢測、鹵素（Br、Cl）檢測、玩具八...
-
XRF能量色散X射線熒光光譜儀的基質(zhì)基體干涉效應(yīng)分析
XRF能量色散X射線熒光光譜儀的基質(zhì)基體干涉效應(yīng)分析a)激發(fā)輻射的散射過程會影響樣品中元素的特征輻射強度。這是因為散射過程會影響光譜的背面?？捶?。此外，還有兩個主要影響：b)樣品中的激發(fā)輻射被吸收，其他元素（基質(zhì)）發(fā)出由此產(chǎn)生的或熒光輻射。c)樣品中其他元素的二次激發(fā)（增強）?！芰喜牧希核芰蠘悠分械幕|(zhì)會影響分析物的特征X射線強度，主要來自：—一次輻射的散射（主要是不連續(xù)的），這對背景光譜有很大的貢獻—在熒光輻射中的吸收，主要是由PVC中的Cl、Ca、Ti、Zn、Sn等添加...
-
用于測定煤中硫的X 射線熒光光譜儀 Compass 4294 plus
用于測定煤中硫的能量色散X射線熒光光譜儀Compass4294plusxrf分析儀的油樣制備步驟不同于化學(xué)法、庫侖滴定法、高溫燃燒中和法和紅外光譜法，現(xiàn)有國標(biāo)煤總硫含量測定方法需要化學(xué)試劑多、操作復(fù)雜、耗時長，我公司采用能量分散型X-射線熒光光譜儀Compass4294plus快速、無損且可靠地測定煤中的硫含量。該方法是一種相對分析方法，將未知樣品的光譜與硫含量已知的樣品進行比較，進行定量分析。應(yīng)用由實驗確定本方法分析了煤中硫的合適的制樣方法、制樣條件和測定條件；經(jīng)過樣品數(shù)據(jù)...
歡迎來到蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司網(wǎng)站！
聯(lián)系人：張經(jīng)理
地址：江蘇省蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2幢407
郵箱：sales@esi-xrf.com
掃一掃
傳真：