儀器及方法介紹

測量條件

所測試的水泥分析儀EDX9000A新型XRF光譜儀配備有最大功率為50瓦的具有薄Be窗口的風(fēng)冷Rh靶材管。它配備了超高分辨率的電冷卻硅漂移探測器(SDD)。該儀器具有7個初級濾光片，可確保始終找到最佳激發(fā)條件。使用兩種激發(fā)條件來覆蓋表所有目標(biāo)分析物：一種條件在6kV下不帶過濾光片以激發(fā)從鈉到硫的所有輕元素，另一種在30kV下使用薄Mo過濾光片來激發(fā)所有剩余目標(biāo)分析物。我們使用了300秒的總生存時間來完成一個樣品分析。所有測量均在真空條件下進(jìn)行。

強(qiáng)度計算方法

直接用白銅合金片樣定性掃描測定Ni,Cu和Zn的X一射線熒光強(qiáng)度值,作強(qiáng)度歸一化可以半定量確定主量元素質(zhì)量百分?jǐn)?shù)(%),結(jié)果發(fā)現(xiàn)元素之間有明顯的吸收-增強(qiáng)效應(yīng).改用溶液濾紙片薄膜制樣測定,強(qiáng)度歸一化的計算 值與試樣元素的推薦值十分吻合,說明元素之間的吸收-增強(qiáng)效應(yīng)基本消除,研究的方法精確度高，重復(fù)性好，滿足客戶測試需求。

譜處理方式: 譜經(jīng)數(shù)字濾波扣除本底和重疊峰, 用XML峰擬合法提取峰的凈強(qiáng)度.

定量分析: 采用基本參數(shù)法 (FP). 能校正基體效應(yīng). 此法具有下列特點, 非常適合于定量分析:

•可以使用與樣品成份不同的標(biāo)樣.

•減少了準(zhǔn)確分析所需的標(biāo)樣數(shù).

•可以對整個樣品或者部分分析元素進(jìn)行無標(biāo)樣分析. 例如, 分析 Bi 時用 Pb校正, 分析 Sb時用

Sn校正.

結(jié)果

使用一套5個MBH白銅標(biāo)樣進(jìn)行分析. 對FP法而言, 此標(biāo)樣數(shù)已經(jīng)是多了. 很容易得到可靠的工作曲線. 從Pb and Zn的曲線也可以看出, 少幾個標(biāo)樣也不會降低方法的準(zhǔn)確度

可以調(diào)節(jié)計數(shù)時間達(dá)到所要的分析精度. 還可以修改輕元素的激發(fā)條件 (對Al, Si)對方法加以改進(jìn). 由于樣品可能有不均勻性– 例如, 鉛或鋅的分布, 應(yīng)考慮適當(dāng)?shù)臉悠分苽湟缘玫秸?有代表性的結(jié)果.

結(jié)論

報告的數(shù)據(jù)表明EDXRF合金分析儀EDX9000A光譜儀能夠容易地測定各種銅合金的成份, 每個樣品的分析時間不超過3分鐘

EDX9000A真空型臺式X射線合金分析儀產(chǎn)品特點

作為一款專業(yè)為合金元素分析而設(shè)計和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-9000A兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優(yōu)勢主要有

•更快---全程無損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果（可實時刷新測試結(jié)果）

•更準(zhǔn)---強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)，并同時考慮到不

•更穩(wěn)---使用最新的硅漂移檢測器SDD可得到更好的測試穩(wěn)定性和長期重復(fù)性，該款檢測器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強(qiáng)度（計數(shù)率CPS）。多道分析器DPP可實現(xiàn)超過100,000 cps的線性計數(shù)速率而同時保證優(yōu)秀的光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV，以更好地分離不同元素的光譜。與傳統(tǒng)的EDXRF臺式儀器相比，EDX9000A光譜儀可以全功率運行，因此實現(xiàn)了更精準(zhǔn)的測試表現(xiàn)。